Métodos de difracción de rayos X : principios y aplicaciones [fotocopias] / J. Bermúdez Polonio
By: Bermúdez Polonio, Joaquín
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[s,l.] : [s.n.], Description: 121 h. (241 p.) ; il ; 22 cm.Subject(s): Rayos x -- difraccion | Cristalografia por rayos xDDC classification: 359.7222 / B516m | Item type | Current location | Collection | Call number | Vol info | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds |
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Libros
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Biblioteca Central | General | 359.7222 / B516m (Browse shelf) | 8001 | 1 | Available | FO | 8010005813 |
Naturaleza y producción del espectro de rayos X -- Espectro continuo y espectro característico de
radiaciones -- Fenómenos de interacción de los rayos X con la materia -- Análisis del espectro de rayos X con
cristales monocromadores -- Detección de los rayos X y medida de intensidades -- Aplicación analítica de la
espectroscopia de fluorescencia de rayos X -- Técnicas de análisis cuantitativo -- Inerferencias espectrales
en espectroscopia de fluorescencia de rayos X -- Análisis químico por absorciometría de rayos X --
Determinación de espesores por espectrometría de rayos X -- La macrosonda de rayos X y la microsonda
electrónica -- Apéndices --
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