000			01263nam a22002177a 4500
008			140202b ck ||||| |||| 00| 0 spa d
082	0	4	_a359.7222 / B516m
100	1		_aBermúdez Polonio, Joaquín _930981
245	1	0	_aMétodos de difracción de rayos X : principios y aplicaciones [fotocopias] / J. Bermúdez Polonio
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650	1	4	_aRayos x _xdifraccion _9129766
650	1	4	_aCristalografia por rayos x _9105199
999			_c15964 _d15964